Dünyayı maddi dalgalarla görmek | 1. Bölüm
Çalışmalar göstermiştir ki, insanlar tarafından alınan bilgilerin yaklaşık% 80'ini oluşturarak renkli dünyayı insanların karşısına sunmaktadır.Malzemenin insan gözüne yansıttığı görünür ışık dalgalarının bir sonucudur.Örneğin gözlerimizle canlı yeşil bir bitki görebiliriz (Şekil 1a) ). Ancak insan, çıplak gözle gözlemden memnun değil, maddi dünyanın içini derinlemesine gözlemlemeyi umuyor. Büyüteç ve optik mikroskop, mikroskobik dünyayı gözlemlemek için insan tarafından icat edilen ilk aletlerdir. Bitkiyi oluşturan lignin hücreleri optik bir mikroskopla gözlemlenebilir (Şekil 1b). Bununla birlikte, zaman geçtikçe, optik mikroskop ne kadar iyileştirilirse geliştirilsin, çözünürlüğünü daha da iyileştirmek zordur.
(A)
(B)
(C)
Şekil 1 (a) Lignin bitkisi (kamera), (b) Lignin hücresi (ışık mikroskobu), (c) Yeni koronavirüs (elektron mikroskobu)
İki nokta optik ekipmanla ayırt edilebiliyorsa, optik aletlerin çözünürlük kapasitesinin bir ölçüsü olan Şekil 2'de gösterildiği gibi Rayleigh Kriterini karşılamaları gerektiğini biliyoruz. Çözülebilecek minimum mesafe yaklaşık olarak şu şekilde ifade edilir:
Bunlar arasında, ışık kaynağının radyasyon dalga boyu, ortamın kırılma indisi ve büyütecin yarı açısıdır. sin sayısal açıklık olarak adlandırılır ve yaklaşık olarak birim 1'dir. Örnek olarak insan gözünün görebileceği kısa dalgalı yeşil ışığı alalım, dalga boyu yaklaşık 550 nm ve optik mikroskop sisteminin en yüksek çözünürlüğü yaklaşık 300 nm'dir.
Şekil 2 Ruili kriteri
Elbette, gözlem dalga boyunu değiştirerek, ultraviyole ışınları, x-ışınları vb. Kullanarak yağa daldırma mikroskobu (n = 1.5) gibi kırılma indisini de artırabiliriz. Ancak genel olarak etki sınırlıdır. Bu nedenle insanoğlu, inorganik materyal dünyasını ve organik yaşam formlarını tespit etmek için materyal dalgalarını olabildiğince kullanmak için çeşitli teknolojiler geliştirmiştir.İnsan bilimi ve teknolojisinin gelişimi de gözlem yeteneklerinin sürekli iyileştirilmesinden faydalanmıştır. Şekil 1'deki üç fotoğraf (a) lignin bitkileri, (b) lignin hücreleri ve (c) yeni koronavirüstür. Çözünürlükleri yaklaşık 100m, 1m ve 0.01m'dir. Şekil 1 (c) 'nin çözünürlüğü, insan gözü ve optik mikroskobun çözünürlük sınırından çok daha küçük olan 10 nm'ye ulaşır. Bu net resmin elde edilmesi, elektron mikroskobunun kredisidir.
Mikroskopi Teknoloji Geliştirme Hatırası
Aşağıdaki tablo Nobel Ödülü'nü kazanan görüntüleme teknolojilerini listelemektedir.
Tablo 1 Nobel Ödülü'nü kazanan gelişmiş ekipman ve görüntüleme teknolojisi
Formül (1) 'den, çözünürlüğü iyileştirmenin en önemli yolunun mikroskop ışık kaynağının dalga boyunu azaltmak olduğu görülebilmektedir.Ayarlanabilir dalga boyu ve kararlı çıkış ışık kaynağının nasıl gerçekleştirileceği mikroskop araştırması alanındaki temel çekirdek teknolojidir. Bu nedenle, madde dalgaları teorisine dayanarak, insanlar art arda elektron ışını ışık kaynakları, iyon ışını ışık kaynakları ve nötron ışını ışık kaynakları gibi gelişmiş ışık kaynağı teknolojileri geliştirmişlerdir.Bu gelişmiş madde dalgası ışık kaynakları, mikroskobik dünyayı aydınlatmakta ve insanların mikroskobik maddeyi anlamasına ve anlamasına yardımcı olmaktadır. Dünya bir umut penceresi açar.
Bu makale aşağıdaki 4 kısma ayrılacaktır: 1. Madde dalgası kavramı, 2. Madde dalgasının ışık kaynağı ve mikroskopi teknolojisi, 3. Madde dalgasının mikroskobik dünyası, 4. Genel Bakış.
01 Madde dalgası kavramı - ışık kaynağı üretim mekanizması
Dünya maddi ve aynı zamanda hareketlidir. De Broglienin dalga-parçacık ikilemi teorisine dayanarak, hareketli madde parçacıkları hem parçacık özelliklerine hem de dalga özelliklerine sahiptir: parçacığın momentumu p ve dalga boyu , Planck sabiti ile bağlanır.
Işınlanmış ışık kaynağının parçacıklarının dalga boyunu kontrol etmenin tek yolu, parçacıkların hızını kontrol etmektir. Elektron ışını ışık kaynağını örnek olarak bir transmisyon elektron mikroskobunda (TEM) ele alalım, elektronlar kinetik enerji elde etmek için bir elektrik alanı tarafından hızlandırılır, yani
Elektronun momentumu p, elektron kütlesi m0 ve elektron hızı v'nin çarpımıdır.
Denklem (2) 'ye geri dönün, elektron ışını dalga boyu ile elektron mikroskobu ivme gerilimi arasındaki ilişki elde edilebilir.
İvme voltajı V, elektron ışını dalga boyu ile ters orantılıdır.
Hızlanma voltajı 100 kV'yi aştığında, elektronların hızı ışık hızının yarısından daha büyüktür, bu nedenle formül (5), görelilik teorisi, yani görelilik teorisi tarafından düzeltilmelidir.
02 Madde dalgası ışık kaynağı ve mikroskopi teknolojisine giriş
2.1 Elektron ışını ışık kaynağı
Elektron, doğada yaygın olarak bulunan ve her tür maddede bulunan bir tür parçacıktır. Bununla birlikte, elektronlar genellikle pozitif yüklü çekirdeğin etrafına elektrostatik kuvvetle bağlanır.Elektron mikroskoplarının gerektirdiği uzayda elektronların serbest hareketi nadirdir. Bu nedenle araştırmacılar, bir elektron ışını ışık kaynağı üretmek için bir elektron tabancası cihazı icat ettiler.Elektron tabancasının yapısı ve elektron ışını üretme prensibi Şekil 3'te gösterilmiştir. Mevcut elektron tabancaları yapılarına göre termal emisyon elektron tabancaları ve alan emisyonlu elektron tabancaları olmak üzere iki kategoriye ayrılabilir.
Termal emisyon elektron tabancasında, LaB6 gibi kolaylıkla elektron yayan malzemeyi ısıtmak için bir filament kullanılır.Malzeme ısıtıldıktan sonra katıdaki elektronların hızı artar.İş fonksiyonunu aşan yüksek enerjili elektronlar, elektrostatik kuvvetin kısıtlamasından kurtulabilir ve malzemeden salınır. 3 A.
Alan emisyon elektron tabancasında yayan malzeme, Şekil 3b'de gösterildiği gibi çok keskin bir uca sahiptir. Uçtaki elektrik alan yoğunluğu, uygulanan voltaj altında çok yüksektir ve iletim bandı elektronları, bir elektron ışını oluşturmak için kuantum mekanik etkilerden kaçacaktır. Spesifik çalışma prensibi, birinci seviye elektrodun birkaç kV pozitif voltajla uygulanması ve güçlü elektrik alanın elektronları iğneden çekebilmesidir; ikinci seviye elektrot, hızlanan voltajdır ve elektronlar 200 kV ile hızlandırılabilir. Şekil 3d. Alan emisyonlu elektron tabancası, sıcak katot elektron tabancasından daha yüksek parlaklığa ve daha iyi tutarlılığa sahiptir, ancak maliyeti de daha yüksektir. Şok tabancasının genel yapısının fotoğrafı Şekil 3e'de gösterilmektedir.
Şekil 3 a. LaB6 sıcak katot filament ucu; b. Alan emisyonlu W iğne ucu, belirli bir tek kristal W yönünden yapılmıştır, uç özellikle keskindir; c. Filament modülü; d. Alan emisyon filaman elektronik ekstraksiyon devresinin şematik diyagramı; e. Elektron tabancasının görünümü
Elektron ışını ışık kaynağının performans parametreleri
Tablo 2, ortak ivme voltajları altında formül (5) ve (6) ile hesaplanan elektron ışını ışık kaynaklarının özelliklerini ve parametrelerini listeler.Tablo 1'deki verileri formül (1) 'e geri koymak, (1.22 katsayısını kullanarak), 100kV hızlanma voltajının, Elektronların minimum çözümleme mesafesi, atom çapından (yaklaşık 0.1 nm) çok daha küçük olan yaklaşık 4 pm (0.004 nm) 'dir.
Tablo 2 Elektron ışını özellikleri ve hızlanan voltaj arasındaki ilişki
2.2 İyon ışını kaynağı
İyon ışını mikroskobunun numuneleri gözlemleme prensibi elektron ışını mikroskobu ile aynıdır. Fark, aynı hızlanan voltaj altında numuneye giren iyon ışınının derinliğinin iyon türlerine göre değişmesidir. Daha küçük kütleli H + ve He + elektron ışınlarından daha derindir ve Ga + elektron ışınlarından daha sığdır. Tablo 3, farklı hızlanma voltajlarındaki birkaç iyon kaynağının çözünürlüğünü listeler.
Tablo 3 Ga + ve He + kirişlerinin birkaç temel parametresinin karşılaştırması
İyon demeti kaynakları genellikle element elementlerini iyonlaştırarak elde edilir ve sıvı metal iyon kaynaklarına, gaz alanı iyon kaynaklarına ve endüktif olarak bağlanmış iyon kaynaklarına bölünebilir.
Sıvı metal iyon kaynağı
Sıvı metal iyon kaynakları (LMIS) olarak kullanılabilen birçok metal veya alaşım vardır, ancak en yaygın olarak ticarileştirilen iyon kaynağı, Şekil 4'te gösterildiği gibi Ga metalidir. Ga düşük bir erime noktasına (yaklaşık 30 ) sahiptir; tungsten ucunun yüzeyi ile reaksiyona girmez, bu da uzun süreli depolama ve kullanım sırasında tungsten metal ile alaşım reaksiyonlarını engelleyebilir; aynı zamanda Ga düşük buhar basıncına sahiptir ve vakumda buharlaşmaz; düşük yüzey enerjisine sahiptir ve tungstende kullanılabilir. Uç yüzeyinin manipüle edilmesi gibi bir dizi avantaj. Alan emisyon elektron ışını kaynağına benzer şekilde, Ga + iyonları da iki adımda üretilir:
Şekil 4 Ga iyon kaynağı ve ekstraksiyon elektrodunun şematik diyagramı
Adım 1: Önce tungsten telini eritmek ve ıslatmak için Ga kaynağını ısıtın ve 2-5 m çapında damlacıklar oluşturmak için ön uca akın. Daha sonra, 108V / cm'lik elektrik alanı ve sıvı Ga'nın yüzey gerilimi etkisi altında, damlacığın ucu "Taylor koni" şekline çekilecek ve ucun çapı 2-5 nm'ye ulaşacaktır; ikinci adım: kararlı bir denge oluştuğunda "Taylor konisi" nden sonra, uçtaki Ga alan buharlaşması şeklinde verimli bir şekilde iyonize edilir ve yüzeyden kaçarak 1 × 108A / cm2'lik yüksek parlaklıkta bir ışın üretir. "Taylor konisi" daha sonra şeklini korumak için arkadaki sıvı Ga ile desteklenecektir. . İyon ışını enerjisinin monokromatikliğini sağlamak için, monoizotopik Ga atomlarına ihtiyaç vardır, bu nedenle Ga iyon kaynağı daha pahalıdır.1000 saatlik hizmet ömrü garanti edildiğinde, her bir kaynağın fiyatı genellikle 30.000-80.000 RMB'dir.
Gaz alanı iyon kaynağı
Sıvı metal iyon kaynağının yapısına benzer şekilde, gaz alanı iyon kaynağının (GFIS) çekme devresinin şematik diyagramı Şekil 5'te gösterilmektedir. Son derece ince tek kristal W iğne ucu, gaz alanı iyon kaynağının yayıcısı olarak çekme elektrodundan belirli bir mesafede yerleştirilir. Tek kristal W iğne ucu, uçta 3 izole atom ile eksenel yönde yönlendirilmiştir. Çekme elektrotu, iyonların kaçması için uygun bir elektrik alanı elde etmek için iyon kaynağına göre negatif bir potansiyele sahiptir. He iyonları için elektrik alanın uçta en az 4,4 V / Å ve Ne iyonları için 3,3 V / Å olması gerekir. İğne ucu son derece keskin olduğu için, iğne ucunun eşpotansiyel yüzeyinin en yoğun olduğu ve elektrik alanının iğne ucunun diğer konumlarından çok daha büyük olduğu yer burasıdır. Bu nedenle He gazı ve Ne gazı, iğnenin ucundaki birkaç atom katmanında sadece He iyonlarına ve Ne iyonlarına iyonize olabilir. Ekstraksiyon direği tarafından çıkarılan He iyonları veya Ne iyonları, hızlanan elektrik alanı tarafından hızlandırılmaya devam eder ve görüntüleme için sonraki manyetik lens sistemine girer.
Şekil 5 GFIS gaz alanı iyon kaynağı ışın ekstraksiyonunun şematik diyagramı. a. Elektrot devresini dışarı çekin; b. He + iyonları, tungsten iğnesinin ucunda düzenlenmiş 3 açık tungsten atomunda üretilir; c. Gerçek kullanımda, iğne ucu hafifçe saptırılır ve 3 atom arasında yalnızca en parlak atom kullanılır. Görüntüleme için iyon ışını. İyon ışını aynı atom tarafından yayıldığından, ışın noktası çok küçüktür (yalnızca bir tungsten atomu büyüktür) ve tutarlılık da iyidir, bu da geniş alan derinliğine sahip yüksek kaliteli resimler elde etmeye elverişlidir.
Endüktif olarak eşleşmiş plazma kaynağı
İşleme ekipmanının iyon kaynağı olarak, yüksek parlaklığa ve büyük ışın akımına (250 nA gibi) sahip bir iyon kaynağı, konsantre enerji dağılımı, uzun ömür ve yüksek stabilite gereklidir. Şu anda, gaz kaynağı olarak Xe, Ar, N2 ve O2 kullanan Plazma-FIB (PFIB) görüntüleme işleme sisteminin iyon kaynağı oluşturma şeması şudur: ilk olarak plazma elde etmek için endüktif olarak birleştirilmiş bir plazma kaynağı (ICP kaynağı) kullanın ve ardından uygulamak için elektrodu çekin 4-8,5 kV'luk ön gerilim, farklı ışın akımlarının iyon ışınlarını çeker ve ardından 10-30 kV'luk bir voltajla hızlandırır. PFIB ekipmanı yalnızca son iki yılda bilimsel araştırma kullanıcılarına tanıtıldı.Çin'deki bilimsel araştırma topluluğunda yalnızca yaklaşık 4 ünite var (Mart 2020 itibariyle) ve optik sistemini tanıtan ayrıntılı bir kitap veya makale yok.
2.3 Nötron ışını kaynağı
Nötron ışını kaynağının özellikleri
Nötron aynı zamanda elektrona benzer bir tür madde dalgasıdır, nötron dalga boyu enerji ile değişir. Hızlı nötronların dalga boyu 0.00028 Å, termal nötronların dalga boyu 1.8 Å ve ultra soğuk nötronların dalga boyu 495 Å olup, aşırı ultraviyole (EUV) ile aynı dalga boyudur.
Elektronlar gibi, nötronlar da doğada yaygındır, ancak serbest nötronların yalnızca yaklaşık 15 dakikalık kısa bir ömürleri vardır ve çok sayıda nötron, güçlü etkileşimlerle çekirdekte bağlanır. Bu nedenle nötronlar nükleer reaksiyonlarla üretilir.
Nötron ışını kaynağının geliştirme geçmişi
Birinci nesil
İzotop radyoaktif kaynaklar ve düşük enerjili hızlandırıcı kaynaklar
Nötron oluşturmak için aşağıdaki reaksiyonu kullanın
Alfa ışınları yayan 238Pu, 226Ra veya 241Am, metal berilyum tozuyla belirli bir oranda homojen bir şekilde karıştırılır ve küçük bir silindire bastırılır ve nötron oluşturmak için metal bir kabuğa kapatılır. 1932'de Chadwick bu reaksiyonu bir nötron elde etmek için kullandı ve Nobel Ödülü'nü kazandı.
İkinci nesil
Reaktör nötron kaynağı
Reaktördeki fisyon reaksiyonu nötronları üretmek için kullanılır.Örneğin uranyum 235, aşağıdaki reaksiyonlar yoluyla reaktörde nötronlar oluşturabilir:
Yalnızca birkaç ülkede, tümü Uluslararası Atom Enerjisi Ajansı'nın denetimi altında olan araştırma reaktörleri vardır.
Üçüncü nesil
Spallasyon Nötron Kaynağı
Spallasyon nötron kaynağının prensibi: ağır element hedeflerini (kurşun, tungsten veya uranyum, toryum gibi) yaklaşık 1 GeV ara enerjili protonla bombardıman etmektir.Yüksek enerjili protonlar ağır atom çekirdeğine çarptığında, atom çekirdeğinin sıcaklığı artar ve nükleer İçerideki nötronlar "kaynamak" için enerji kazanacak ve çekirdeğin esaretinden kopacak. Bu, toplarla dolu bir sepete sert bir softball atmak gibidir. Bazı toplar hemen dışarı çıkarken, daha fazla top çarpışacak, zıplayacak ve sepetten çıkacaktır. Spallasyon nötron kaynağı, yüksek etkili nötron akışı özelliklerine sahiptir ve radyoaktif nükleer atık içermez.
Şekil 6 Hash nötron kaynağının üretilme sürecinin şematik diyagramı
Nötronların yükü olmadığı ve bir elektrik alanı tarafından hızlandırılamayacağı için, çoğu şimdi yüksek enerjili nötronlar elde etme ve ardından farklı enerjilere sahip nötronlar elde etmek için yavaşlama yöntemini benimsiyor ve böylece nötron ışınının dalga boyunu değiştiriyor.
Şekil 7, ABD Aerotest reaktör nötron görüntüleme tesisidir. 2018 yılında, Çin Bilimler Akademisi Yüksek Enerji Enstitüsü ve Çin Bilimler Akademisi Enstitüsü, Dongguan, Guangdong'da fiilen faaliyete geçen ve genellikle uluslararası ileri seviyeye ulaşan Çin Spallasyon Nötron Kaynağını (CSNS) ortaklaşa tasarladı ve inşa etti. Şekil 8'e bakın.
Şekil 7 İkinci nesil reaktör kaynağı
Şekil 8 Üçüncü nesil hash kaynağı: Şubat 2017'de China Spallation Neutron Source Park'ın kuş bakışı görünümü
2.4 Mikroskop görüntüleme ışık yolu
Şekil 9, birkaç mikroskobun optik yolunun şematik bir diyagramını göstermektedir, (a) optik mikroskop, (b) transmisyon elektron mikroskobu TEM, (c) taramalı elektron mikroskobu SEM.Bu mikroskopların optik yolları benzerdir ve hepsi ışık kaynağı bölümünü, ışık yolu bölümünü ve Algılama bölümü.
Hepimiz, çekirdeği birden fazla dışbükey mercek setinden oluşan ve işlevi numunenin görüntüsünü büyütmek ve uygun bir gözlem konumuna taşımak olan optik mikroskoplara aşinayız. Elektron ışınları ve iyon ışınları yüklü oldukları için elektromanyetik alanlar tarafından kontrol edilebilirler. Hem elektrik hem de manyetik alanlar mercek haline getirilebilir, ancak mevcut elektron ışını hızları hızlandığından ve elektrostatik alanın gücü sınırlı olduğundan, ana akım şimdi manyetik alanları mercek olarak kullanmaktır. Şekil 11'e bakın.
Şekil 9 Mikroskobun optik yolunun şematik diyagramı, (a) optik mikroskop, (b) transmisyon elektron mikroskobu TEM, (c) taramalı elektron mikroskobu SEM
Birkaç enstrümanın ışık yollarını karşılaştırdığımızda, transmisyon elektron mikroskobunun ışık yolunun optik mikroskobunkine çok benzediğini ancak taramalı elektron mikroskobunun çalışma prensibinin ilk ikisinden çok farklı olduğunu görebiliriz. Şekil 10, taramalı elektron mikroskobu tarafından toplanan sinyal türlerini göstermektedir.
Şekil 10 SEM tarafından toplanan sinyal türleri
Elektron ışınının hızlanma voltajı TEM'in 200 kV'undan 30 kV veya altına düşürülür ve yakınsarsa, taramalı elektron mikroskobunun (SEM) ışık kaynağı olur. Odaklanmış elektron ışını numune yüzeyini (birkaç nanometre) ışınladığında ve numuneye girdiğinde, ikincil elektronlar, geri saçılan elektronlar, Auger elektronları, X ışınları ve görünür ışık gibi sinyaller oluşturmak için numune çekirdeği ve ekstranükleer elektronlarla etkileşime girer. Şekil 10'a bakın. SEM genellikle görüntüleme için ikincil elektronları veya geri saçılmış elektronları toplar.Odaklanmış elektron ışını, belirli bir zamanda yalnızca bir konumda malzemenin yansıyan sinyalini ölçebilir.Örneğin farklı pozisyonlarının malzeme özelliklerini ölçmek için elektron ışınının odak pozisyonu sürekli hareket ettirilmelidir. , Bu, yalnızca iki kelimeyi taramanın kaynağıdır (Japonca "gözden geçirme" anlamına gelir). Elektron ışını bir iyon ışınıyla değiştirilirse, iyon ışını mikroskobu olur.
Mevcut elektron mikroskobundaki elektron ışınının dalga boyu pm mertebesine ulaşabilir, ancak neden sıradan TEM'de kafes görüntüsünü (nm ölçeği) görebilir, ancak atomik görüntüyü göremez? Çözünürlük yüzlerce kez kaybedildi! Bunun nedeni, TEM'deki elektron hareket yolunun, Şekil 11'de gösterildiği gibi, manyetik merceğin sapmasıyla kontrol edilmesidir. En iyi manyetik mercek etkisi de çok "kötüdür" Transmisyon elektron mikroskobu üzerindeki etkisi, mercek olarak bir Coca-Cola şişesinin tabanını kullanmaya benzer. Örneği gözlemlemek için optik mikroskop.
Şekil 11. TEM'de kullanılan bazı manyetik lenslerin şematik diyagramı
Son yıllarda, küresel sapma düzeltici (aynı anda kullanılan birden fazla manyetik lens seti) ve monokromatör (elektron enerjisini tutarlı hale getirmek için) uygulamasıyla, insanlar atomik çözünürlük resimlerini görebilir, ancak her işlev için ek eklemelere ihtiyaç vardır. Yaklaşık 1 milyon dolar. Vurgulanması gereken bir nokta şudur: atomik görüntüyü gözlemleyebilen TEM çok hassastır ve çok yüksek çevresel gereksinimler gerektirir.Grimm masallarındaki Prenses ve Bezelye gibi, bir titreşim sönümleme platformu, özel bir sabit sıcaklık odası inşa etmek ve elektrik alanı koruması ve manyetik alan yapmak gerekir. Sınıf alanının yaklaşık 1 / 4'ünü bir laboratuvarı bu şekilde dekore etmek için kalkanlama vb. 3 milyon RMB'ye mal olur.
Nötron kaynağı mikroskobu, optik mikroskop ve X-ışını görüntülemeye benzer.Nötronlar üzerinde kırılma etkisi olan bazı malzemelerden yapılmıştır.Ancak nötronların güçlü penetrasyon kabiliyetinden dolayı nötron lensi yapmak zordur. Şu anda nötron kaynağı mikroskobu Çözünürlük yüksek değil.
(Devam edecek)
Fizik Enstitüsü öğretmenlerinden ve öğrencilerinden orijinal katkılar
Yazar: Meng Qi
Yorumcu: Zhang Qinghua
Enstitüdeki öğretmenler ve öğrenciler, "Fizik Enstitüsünün Çevrimiçi Ofis Platformu" aracılığıyla makale gönderebilirler! Yöntem şu şekildedir: "ofis platformu" "çalışma salonu" "Genel Ofis İşleri" "Bilim Makalesi Gönderme" şeklinde oturum açın.
Editör: Dannis
Görüntülemek için başlığa tıklayın
1. Fizik yasaları size şunu söylüyor: İtiraf çok büyük bir kayıp olabilir ve ayrıldıktan sonra kan kazanmanız gerekir
2. Şok! Dün diktiğiniz süpürge NASA'yı gerçekten endişelendirdi
3. Alkol ve 84 dezenfektan birlikte kullanılabilir mi?
4. Tek kullanımlık tıbbi maskeler nasıl yapılır? Nasıl dezenfekte edilir?
5. Matematik eğlencelidir Bu dev takım, matematik ve fen alanlarında bir grup doktorla birlikte sahayı taradı.
6. "Sıcaklık ölçme tabancası" sıcaklığınızı nasıl ölçer?
7. 0 derece su ile 100 derece su karıştırılarak 50 derece su elde edilebilir mi?
8. İnsanlar neden öpüşmeyi sever?
9. Virüs nereden geliyor?
10. İlk görüşte aşk güvenilir midir?
